Skaningowy mikroskop tunelowy (STM) — zasady, rozdzielczość, zastosowania

Skaningowy mikroskop tunelowy (STM) — zasady, rozdzielczość i zastosowania. Poznaj obrazowanie atomowe, mechanizm tunelowania oraz precyzję 0,01–0,1 nm i praktyczne zastosowania.

Autor: Leandro Alegsa

Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM) to sposób na oglądanie atomów. Została opracowana w 1981 roku. Została wynaleziona przez Gerda Binniga i Heinricha Rohrera w IBM Zürich. Za jej wynalezienie otrzymali oni w 1986 r. Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki. Dla STM dobra rozdzielczość to 0,1 nm rozdzielczość boczna (jak dokładnie widzi cechy na powierzchni) i 0,01 nm rozdzielczość wgłębna (jak dokładnie widzi wysokość nierówności na powierzchni). STM może być używany nie tylko w próżni, ale także w powietrzu i różnych innych cieczach lub gazach, oraz w większości powszechnie stosowanych temperatur.

Zasada działania

STM opiera się na tunelowaniu kwantowym. Kiedy metalowa końcówka jest zbliżona do powierzchni metalowej lub półprzewodnikowej, napięcie pomiędzy nimi pozwala na przepływ elektronów przez próżnię pomiędzy nimi. Zmiany w natężeniu prądu podczas przesuwania sondy nad powierzchnią są tym, co tworzy obraz. STM może być trudna do wykonania, ponieważ wymaga bardzo czystych powierzchni i ostrych końcówek.

W praktyce najważniejsze elementy aparatury to ostra sonda (zwykle wykonana z wolframu lub stopu PtIr), układ skanujący oparty na elementach piezoelektrycznych oraz układ sprzężenia zwrotnego, który reguluje odległość sondy od powierzchni. Natężenie prądu tunelowego zależy wykładniczo od odległości między końcówką a próbą — zmiana o 1 Å (0,1 nm) może powodować zmianę prądu o rzędy wielkości. Dzięki temu STM osiąga wyjątkową czułość pionową.

Rozdzielczość i czynniki wpływające

  • Rozdzielczość pionowa: do ~0,01 nm — zależy od stabilności mechanicznej i czułości detekcji prądu.
  • Rozdzielczość boczna: rzędu ~0,1 nm — zależy od ostrości końcówki, jakości skanera i oddziaływań elektronowych z powierzchnią.
  • Czynniki ograniczające: drgania mechaniczne, szum elektryczny, nieregularność końcówki, zanieczyszczenia na powierzchni oraz warstwa tlenków lub adsorbatów.

Tryby pracy

  • Tryb stałego prądu (constant current): układ sprzężenia zwrotnego reguluje wysokość sondy tak, aby utrzymać zadane natężenie prądu; zarejestrowana pozycja sondy tworzy mapę topografii (uwzględniając również lokalną gęstość stanów elektronowych).
  • Tryb stałej wysokości (constant height): sonda utrzymywana jest na stałym dystansie, a zmiany prądu są rejestrowane bez przesuwania sondy — pozwala na szybsze skanowanie, ale wymaga bardzo płaskiej próbki i stabilnej aparatury.
  • Mapa różnicowa i widmowanie: poprzez zmianę napięcia i pomiar prądu jako funkcji napięcia wykonuje się lokalną spektroskopię tunelową (STS), co daje informacje o lokalnej gęstości stanów elektronowych.

Przygotowanie próbki i końcówki

Aby osiągnąć najwyższą rozdzielczość, powierzchnie często przygotowuje się w ultrawysokiej próżni (UHV) przez czyszczenie jonowe, wyżarzanie lub wzrost epitaksjalny. Końcówkę ostrzy się mechanicznie, elektrochemicznie lub przygotowuje w UHV (np. przez odpryskiwanie metaliczne) — ostrość i chemia wierzchołka decydują o jakości obrazów. W warunkach płynnych lub w powietrzu stosuje się dodatkowe zabezpieczenia przed korozją i adsorpcją.

Ograniczenia i wymagania techniczne

  • Stabilność mechaniczna: konieczna izolacja od drgań (stół antywibracyjny, tłumienie akustyczne).
  • Szumy elektryczne: filtracja i ekranowanie sygnałów oraz stabilne źródła napięcia i prądu.
  • Temperatura: wiele eksperymentów prowadzonych jest w niskich temperaturach (np. kriogenicznych) w celu zmniejszenia drgań termicznych i uzyskania lepszego rozdzielenia stanów elektronowych.

Spektroskopia tunelowa (STS) i manipulacja atomowa

STM nie tylko obrazuję topografię; poprzez pomiar prądu przy zmiennym napięciu można uzyskać lokalną spektroskopię elektronową (STS) — informacje o stanach elektronowych powierzchni, przerwie energetycznej w półprzewodnikach lub lokalnych rezonansach molekularnych. Ponadto ostra końcówka STM może być użyta do przesuwania pojedynczych atomów i molekuł po powierzchni (manipulacja atomowa), co otworzyło możliwości konstrukcji struktur atom po atomie.

Zastosowania

  • Badania struktur powierzchni i defektów w metalach i półprzewodnikach.
  • Charakterystyka materiałów niskowymiarowych (grafen, nanotuby, cienkie filmy).
  • Analiza katalizy powierzchniowej i adsorpcji molekuł.
  • Badania elektronowe układów kwantowych, badania lokalnej gęstości stanów (STS).
  • Nanofabrykacja i eksperymenty z manipulacją pojedynczych atomów/molekuł (nanotechnologia).
  • Przemysł półprzewodnikowy — kontrola jakości i badania jawności powierzchni.

Zalety i wady

Zalety: bardzo wysoka rozdzielczość pionowa i boczna, możliwość badania lokalnych właściwości elektronowych, zdolność do manipulacji pojedynczymi atomami. Wady: wymagania odnośnie czystości i stabilności, obraz zależy od gęstości stanów elektronowych (nie jest to zdjęcie "czysto topograficzne"), skanowanie jest stosunkowo wolne, a przygotowanie próbki może być skomplikowane.

STM pozostaje jednym z kluczowych narzędzi w fizyce powierzchni, chemii fizycznej i nanotechnologii — pozwala nie tylko zobaczyć atomy, ale też badać ich właściwości elektronowe i oddziaływania z bardzo wysoką precyzją.

Obraz rekonstrukcji na powierzchni złota.Zoom
Obraz rekonstrukcji na powierzchni złota.

Procedura

Najpierw końcówka jest zbliżana do badanego przedmiotu na odległość około 4-7 angstremów. Następnie końcówka jest przesuwana bardzo ostrożnie po badanym elemencie. Zmiana prądu podczas przesuwania może być zmierzona (tryb stałej wysokości). Można również zmierzyć wysokość końcówki, na której zawsze płynie taki sam prąd (tryb stałego prądu). Używanie trybu stałej wysokości jest szybsze.

Oprzyrządowanie

Części STM to: końcówka skanująca, coś, co porusza końcówką, coś, co powstrzymuje ją przed drganiami oraz komputer.

Części STMZoom
Części STM

Zbliżenie prostej głowicy skaningowego mikroskopu tunelowego na Uniwersytecie St Andrews, skanującej MoS2 za pomocą rysika platynowo-irydowego.Zoom
Zbliżenie prostej głowicy skaningowego mikroskopu tunelowego na Uniwersytecie St Andrews, skanującej MoS2 za pomocą rysika platynowo-irydowego.

Powiązane strony

Literatura

  • Tersoff, J.: Hamann, D. R.: Theory of the scanning tunneling microscope, Physical Review B 31, 1985, s. 805 - 813.
  • Bardeen, J.: Tunnelling from a many-particle point of view, Physical Review Letters 6 (2), 1961, s. 57-59.
  • Chen, C. J.: Origin of Atomic Resolution on Metal Surfaces in Scanning Tunneling Microscopy, Physical Review Letters 65 (4), 1990, s. 448-451
  • G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 50, 120 - 123 (1983)
  • G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 - 61 (1982)
  • G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Appl. Phys. Lett., Vol. 40, Issue 2, pp. 178-180 (1982)
  • R. V. Lapshin, Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology, Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004.

Pytania i odpowiedzi

P: Co to jest skaningowa mikroskopia tunelowa?


O: Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM) to sposób na oglądanie kształtu małych obiektów. Może wykonywać obrazy atomów na powierzchni i przenosić atomy w różne miejsca.

P: Kto wynalazł STM?


O: STM został wynaleziony przez Gerda Binniga i Heinricha Rohrera w 1981 roku w IBM w Zurychu.

P: Kiedy to się stało?


O: Wynaleźli ją w 1981 roku w IBM, w Zurychu.

P: Co potrafi STM?


O: STM może robić zdjęcia atomów na powierzchni i przenosić atomy w różne miejsca.

P: Czy za wynalezienie STM otrzymali nagrodę?


O: Tak, w 1986 r. otrzymali za jej wynalezienie Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki.

P: Gdzie otrzymali tę nagrodę?


A: Otrzymali Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki za wynalezienie STM w 1986 roku.

P: W którym roku otrzymali tę nagrodę?


A: Otrzymali Nagrodę Nobla z fizyki za wynalezienie jej w 1986 roku.


Przeszukaj encyklopedię
AlegsaOnline.com - 2020 / 2025 - License CC3